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Thermal Processing - Diffusion; Oxidation; Annealing; RTA; RTP Equipment
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Test Equipment
Burn-In Accessory Systems
Burn-In Systems
Environmental Stress Systems - Temperature; Humidity; Pressure; HAST
Failure Analysis Systems
Functional Test Systems
Handlers; Positioner Systems
Optical Test Systems
Package Test Systems
Probe Card Maintenance and Analysis Systems
Probing Equipment incl. Analytical; Circuit; Manual; E-Beam; Optical; Wafer Probers
Test Head Manipulators and Docking Stations
Wireless, non-contact Test Systems
Packaging and Assembly Materials
Packages; Plastic
Process Materials
CMP; Grind; Lap; Polish; Abrasive materials
Quartzware (Silicon Carbide, Fused Quartz Glass, Sapphire), Ceramic & Oxide Ceramic Fixtures
Substrates
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Test; Monitor Wafers; Reclaim or Virgin
Test Materials
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Probe Cards; DUT boards and other probing accessories (incl Ceramic and Special Purpose Probe Cards)
Test Sockets; Contactors and Contact accessories
Components, Parts & Accessories
Chucks for Wafer and other Substrates
Flow Control Components - Valves; Meters; Gauges; Regulators; MFC's
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Raw Material & Custom components; Metal
Sensors
Vacuum Systems Components & Accessories (optical monitors; Sputtering target fixtures; lubricants
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Handling; Transfer; Loading Systems; Lifting devices
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Pumps, Vacuum
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Equipment; Hardware; Product Design, Integration and Manufacturing
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