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TSI bietet Partikelzählung von ≥10 nm – Produktfehler vermeiden, Audits bestehen

Unternehmensprofil

TSI erfüllt die kritischen Anforderungen der Halbleiterindustrie, durch vollständige Erkennung von Partikelkontaminationen von 10 nm bis 25 µm. TSI-Instrumente bieten dank Echtzeitdaten die Minimierung des Produktrisikos, simple Durchführung von Prozessaudits und Reduzierung von Zeit- und Materialverschwendung. Sie sind die erste Wahl für die kontinuierliche, zuverlässige Partikelzählung bei der Produktherstellung und gewähren ein komplettes Kontaminationsüberwachungssystem für den automatischen Datenaustausch. So werden Prozesse unter Kontrolle gehalten und Audits bestanden. TSI ist von der Zuverlässigkeit seiner Partikelzählgeräte überzeugt, für die meisten Geräte gilt eine einzigartige Lasergarantie - 5 Jahre für Remote- und 4 Jahre für 0,1 µm-Partikelzähler. Mehr unter tsi.com/semi

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